晶元半導體檢查顯微鏡

MX8R各項操作根據人機工程學設計，最大限度減輕操作者的使用疲勞。其模塊化的部件設計，可對系統功能進行自由組合。涵蓋明場、暗場、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多種觀察功能，可根據實際應用，進行功能選擇。

無限遠鉸鏈三通觀察頭

ETTR 型正像鉸鏈三目觀察頭，所成像的方位與物體實際方位一致，物體移動的方向跟像面移動的方向相同，便于使用者觀察與操作。

長工作距金相物鏡

全新設計的長工作距物鏡，采用半復消色差技術，其使用的多層寬帶鍍膜技術，使整個視場內的成像清晰銳利，色彩自然，明亮舒適。長工作距設計，50X 物鏡的有效工作距離 7.9mm，100X 物鏡的有效工作距離也達到了 2.1mm，更有20X 超長工作距金相物鏡，大幅拓展了 MX 機型的應用領域。同步設計了全套明暗場兩用物鏡，適用于MX8R 機型，暗場照明亮度比傳統暗場物鏡提高 2 倍以上。

高性能物鏡轉換器

MX 機型的轉換器采用精密軸承設計，轉動手感輕巧舒適，重復定位精度高，物鏡轉換后的同心度也得到較好的控制，根據 MX 系列機型配置及功能的不同，可以選擇不同型號的轉換器。

明暗場反射照明器
帶可變孔徑光闌，視場光闌，中心均可調 ；帶明暗場照明切換裝置，適用于MX8R/MX8RT機型。

豐富的觀察方式，滿足您的檢測需求

明場觀察：遠心柯拉反射照明系統，配以全新設計的無限遠長工作距平場消色差金相物鏡，從低倍到高倍，都能得到清晰、平坦、明亮的高畫質顯微圖像。

暗場觀察：將暗場照明拉桿拉到zhi定位置，即可使用暗場功能，可以觀察物體表面的各種劃痕、雜質點及其他細微缺陷。內置衰減片，減少明暗場切換時光線劇烈變換對眼睛的刺激。

簡易偏光觀察：將起偏鏡及檢偏鏡插板插入照明器的zhi定位置，即可進行簡易偏光觀察。檢偏鏡可分為固定式和 360°旋轉式兩種。

DIC 微分干涉觀察：在正交偏光的基礎上 , 插入 DIC 棱鏡，即可進行 DIC 微分干涉觀察。使用 DIC 技術 , 可以使樣品表面微小的高低差產生明顯的浮雕效果，極大的提高圖像的對比度。可匹配帶 DIC 功能的物鏡，使整個視場的干涉色一致，微分干涉效果非常出色 , 高倍物鏡 DIC 效果也較好。

附件:       攝影 / 攝像附件：在三目觀察筒上，可以配接攝影攝像裝置，將雙目觀察到的圖像輸出至監視器或計算機，進行圖像分析、處理、保存或傳送。使用專用的 C 接口與中繼鏡，可以和數碼相機聯接，快速進行拍照，并獲取圖像。

多種干涉濾色片可選:   使用 12V100W 鹵素燈時照明時，可以選擇 LBD 日光型濾色片，能將光線過濾成自然日光的顏色，圖像背景柔和亮白。根據具體工業檢測的需要，可以選擇其他顏色的濾光片來對光線光譜進行調節，以獲得滿意的圖像效果。